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Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag 
Autor(en):
Alyokhin, V.; Elbel, B.; Rothfelder, M.; Pretschner, A. 
Titel:
Coverage Metrics for Continuous Function Charts 
Stichworte:
testing, model, coverage 
Kongress- / Buchtitel:
Proc. 15th IEEE Intl. Symp. on Software Reliability Engineering (ISSRE'04) 
Verlag / Institution:
Institute of Electrical & Electronics Engineers (IEEE) 
Jahr:
2004