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Original title:
Verfahren zur Abschätzung des zeitlichen Maskierungsverlaufs transienter Fehler in digitalen Schaltungen 
Translated title:
Method for estimation of the temporal masking of transient errors in digital circuits 
Year:
2014 
Document type:
Dissertation 
Institution:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik 
Advisor:
Stechele, Walter (Prof. Dr. habil.) 
Referee:
Stechele, Walter (Prof. Dr. habil.); Rosenstiel, Wolfgang (Prof. Dr.) 
Language:
de 
Subject group:
ELT Elektrotechnik 
Keywords:
Transienter Fehler, SEU, Abschwächung 
Translated keywords:
Transient error, SEU, Derating, Error masking 
Abstract:
Moderne integrierte Schaltungen sind empfindlich gegenüber ionisierten Partikeln, die Speicherinhalte verändern können, jedoch keine permanenten Schäden verursachen müssen. Verschiedene Fehlermaskierungseffekte und Methoden zur Bestimmung der Fehlermaskierung wurden untersucht. Ein neuartiges Verfahren zur Bestimmung der Fehlermaskierung wurde vorgestellt und im Detail erklärt. Dieses Verfahren wurde mit andere bekannten Verfahren verglichen, um die Richtigkeit der erzeugten Ergebnisse und die n...    »
 
Translated abstract:
Modern integrated circuits are susceptible to ionized particles causing altered memory contents, but no permanent damage of the device. Several error derating effects and methods to quantify the error masking were analyzed. A new algorithm for error masking estimation was proposed and explained in detail. The algorithm was verified against known methods showing the correctness of the generated results and very low runtime behavior. The results can help to estimate the error rate of future design...    »
 
Oral examination:
27.10.2014 
File size:
2679166 bytes 
Pages:
169 
Last change:
07.11.2014