In the past, manufacturing technology alone had to ensure resilience of integrated circuits. This assumption is no longer tenable in future nanometer technologies. The task of ensuring system resilience has to be distributed over all hierarchy levels – from technology up to system level. After introducing compact models for technology-level faults, this thesis presents several methods for analyzing circuit resilience. These methods enable the consideration of use-profile variations, workload, and instruction impact. Finally, the resilience of an embedded system considering different actuators is evaluated using a statistical fault-injection framework.     «

In the past, manufacturing technology alone had to ensure resilience of integrated circuits. This assumption is no longer tenable in future nanometer technologies. The task of ensuring system resilience has to be distributed over all hierarchy levels – from technology up to system level. After introducing compact models for technology-level faults, this thesis presents several methods for analyzing circuit resilience. These methods enable the consideration of use-profile variations, workload, an...     »

In der Vergangenheit wurde die Zuverlässigkeit integrierter Schaltungen durch den Fertigungsprozess sichergestellt. Diese Annahme ist in zukünftigen Nanometertechnologien nicht länger zu halten. Die Sicherstellung der Zuverlässigkeit des gesamten Systems muss über alle Hierarchieebenen verteilt werden – von der Technologie- bis zur Systemebene. In dieser Arbeit werden nach der Einführung von kompakten Modellen für technologiebedingte Defekte mehrere Methoden für die Analyse der Schaltungszuverlässigkeit vorgestellt. Diese Methoden ermöglichen die Berücksichtigung von Variationen des Nutzungsprofils, der verarbeiteten Daten und der ausgeführten Befehle eines Prozessors. Zum Abschluss wird die Zuverlässigkeit eines eingebetteten Systems unter Berücksichtigung verschiedener Aktuatoren mit Hilfe eines statistischen Fehlerinjektions-Frameworks evaluiert.     «

In der Vergangenheit wurde die Zuverlässigkeit integrierter Schaltungen durch den Fertigungsprozess sichergestellt. Diese Annahme ist in zukünftigen Nanometertechnologien nicht länger zu halten. Die Sicherstellung der Zuverlässigkeit des gesamten Systems muss über alle Hierarchieebenen verteilt werden – von der Technologie- bis zur Systemebene. In dieser Arbeit werden nach der Einführung von kompakten Modellen für technologiebedingte Defekte mehrere Methoden für die Analyse der Schaltungszuverlä...     »