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Originaltitel:
Resilient Cross-Layer Design of Digital Integrated Circuits 
Übersetzter Titel:
Zuverlässiger ebenenübergreifender Entwurf digitaler integrierter Schaltungen 
Jahr:
2015 
Dokumenttyp:
Dissertation 
Institution:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik 
Betreuer:
Schlichtmann, Ulf (Prof. Dr.) 
Gutachter:
Schlichtmann, Ulf (Prof. Dr.); Wehn, Norbert (Prof. Dr. habil.) 
Sprache:
en 
Fachgebiet:
ELT Elektrotechnik 
Kurzfassung:
In the past, manufacturing technology alone had to ensure resilience of integrated circuits. This assumption is no longer tenable in future nanometer technologies. The task of ensuring system resilience has to be distributed over all hierarchy levels – from technology up to system level. After introducing compact models for technology-level faults, this thesis presents several methods for analyzing circuit resilience. These methods enable the consideration of use-profile variations, workload, an...    »
 
Übersetzte Kurzfassung:
In der Vergangenheit wurde die Zuverlässigkeit integrierter Schaltungen durch den Fertigungsprozess sichergestellt. Diese Annahme ist in zukünftigen Nanometertechnologien nicht länger zu halten. Die Sicherstellung der Zuverlässigkeit des gesamten Systems muss über alle Hierarchieebenen verteilt werden – von der Technologie- bis zur Systemebene. In dieser Arbeit werden nach der Einführung von kompakten Modellen für technologiebedingte Defekte mehrere Methoden für die Analyse der Schaltungszuverlä...    »
 
ISBN:
978-3-8439-1983-8 
Mündliche Prüfung:
13.01.2015 
Letzte Änderung:
20.03.2015