Steigende Anforderungen an die Qualität technischer Oberflächen bezüglich geometrischer Toleranzen und Oberflächeneigenschaften können nur umgesetzt werden, wenn sie auch messtechnisch erfasst werden können. Diese Arbeit präsentiert ein neuartiges Verfahren zur gleichzeitigen quantitativen Erfassung von Topografie und Rauheit bei technischen Oberflächen unter Einsatz von Speckle-Interferometrie und multivariater Datenanalyse. Das vorgestellte Messverfahren arbeitet berührungslos und zerstörungsfrei und ist in der Lage, im Bruchteil einer Sekunde verschiedene Rauheitskenngrößen zu liefern.      «

Steigende Anforderungen an die Qualität technischer Oberflächen bezüglich geometrischer Toleranzen und Oberflächeneigenschaften können nur umgesetzt werden, wenn sie auch messtechnisch erfasst werden können. Diese Arbeit präsentiert ein neuartiges Verfahren zur gleichzeitigen quantitativen Erfassung von Topografie und Rauheit bei technischen Oberflächen unter Einsatz von Speckle-Interferometrie und multivariater Datenanalyse. Das vorgestellte Messverfahren arbeitet berührungslos und zerstörungsf...     »

Meeting the requirements of technical surfaces regarding geometry and quality is only possible if these quantities can be acquired and quantified. In this PhD-thesis a method for the simultaneous measurement of surface topography and surface roughness using speckle-interferometry and multivariate data analysis is presented. This method is capable of providing information regarding topography and different roughness parameters in a non-contact and non-destructive way in measurement periods far below one second.     «

Meeting the requirements of technical surfaces regarding geometry and quality is only possible if these quantities can be acquired and quantified. In this PhD-thesis a method for the simultaneous measurement of surface topography and surface roughness using speckle-interferometry and multivariate data analysis is presented. This method is capable of providing information regarding topography and different roughness parameters in a non-contact and non-destructive way in measurement periods far be...     »