User: Guest  Login
Original title:
Ebenheits- und Rauheitsmessung mittels Speckle-Interferometrie 
Translated title:
Shape and Roughness Measurements using Speckle-Interferometry 
Year:
2014 
Document type:
Dissertation 
Institution:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik 
Advisor:
Koch, Alexander W. (Prof. Dr. habil. Dr. h.c.) 
Referee:
Koch, Alexander W. (Prof. Dr. habil. Dr. h.c.); Salazar Bloise, Felix (Prof. Dr.) 
Language:
de 
Subject group:
MSR Meßtechnik, Steuerungs- und Regelungstechnik, Automation 
Keywords:
Speckle-Interferometrie, Rauheitsmessung, multivariate Datenanalyse 
Abstract:
Steigende Anforderungen an die Qualität technischer Oberflächen bezüglich geometrischer Toleranzen und Oberflächeneigenschaften können nur umgesetzt werden, wenn sie auch messtechnisch erfasst werden können. Diese Arbeit präsentiert ein neuartiges Verfahren zur gleichzeitigen quantitativen Erfassung von Topografie und Rauheit bei technischen Oberflächen unter Einsatz von Speckle-Interferometrie und multivariater Datenanalyse. Das vorgestellte Messverfahren arbeitet berührungslos und zerstörungsf...    »
 
Translated abstract:
Meeting the requirements of technical surfaces regarding geometry and quality is only possible if these quantities can be acquired and quantified. In this PhD-thesis a method for the simultaneous measurement of surface topography and surface roughness using speckle-interferometry and multivariate data analysis is presented. This method is capable of providing information regarding topography and different roughness parameters in a non-contact and non-destructive way in measurement periods far be...    »
 
ISBN:
978-3-8440-2964-2 
Oral examination:
14.07.2014 
Last change:
03.11.2014