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Original title:
Radiation Hardness Studies for DEPFETs in Belle II 
Translated title:
Untersuchung von Strahlenschäden für DEPFETs in Belle II 
Year:
2014 
Document type:
Dissertation 
Institution:
Fakultät für Physik 
Advisor:
Caldwell, Allen C. (Prof., Ph.D.) 
Referee:
Caldwell, Allen C. (Prof., Ph.D.); Paul, Stephan (Prof. Dr.) 
Language:
en 
Subject group:
PHY Physik 
Abstract:
For the upgrade of the particle physics experiment Belle towards Belle II a new pixel detector is envisaged. This detector consists of eight million pixels, made of DEPFETs. These DEPFETs will be damaged via radiation during the experiment. In this work the influences of radiation as well as the changes in the properties of the pixel detector were investigated. Production parameters were varied at test structures to ensure optimal operation conditions during the experiment. 
Translated abstract:
Für das Upgrade des Teilchenphysikexperiments Belle zu Belle II wird ein neuer Pixeldetektor entwickelt. Dieser besteht aus acht Millionen Pixeln, welche aus DEPFETs aufgebaut sind. Diese DEPFETs werden durch die am Experiment entstehende Strahlung geschädigt. In dieser Arbeit wurden die Auswirkung von Strahlung auf DEPFETs und die Veränderung der Eigenschaften des Pixeldetektors untersucht. Hierbei wurden Produktionsparameter von Teststrukturen variiert um optimale Arbeitsbedingungen während de...    »
 
Oral examination:
19.02.2014 
File size:
24841348 bytes 
Pages:
233 
Last change:
07.03.2014