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Original title:
Aging Analysis of Digital Integrated Circuits 
Translated title:
Alterungsanalyse digitaler integrierter Schaltungen 
Year:
2012 
Document type:
Dissertation 
Institution:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik 
Advisor:
Schlichtmann, Ulf (Prof. Dr.) 
Referee:
Schlichtmann, Ulf (Prof. Dr.); Marculescu, Diana (Prof., Ph.D.) 
Language:
en 
Subject group:
ELT Elektrotechnik 
Keywords:
EDA, digital design, aging effects, timing analysis 
Translated keywords:
EDA, Digitalentwurf, Alterungseffekte, Timinganalyse 
Abstract:
The aging of integrated circuits leads to a degradation of device parameters, which in turn may lead to a malfunction of the circuit. First, the two dominant aging effects (NBTI and HCI) and their impact on digital standard cells are investigated. Then, two methods are presented to analyze the degradation of the circuit delay on gate and macro cell level. The method on gate level distinguishes itself from the state-of-the-art due to its better accuracy. Based on the aging analysis method for ma...    »
 
Translated abstract:
Die Alterung integrierter Schaltungen führt zu einer Degradation von Bauteilparametern, welche wiederum zu einem Ausfall der Schaltung führen kann. Zunächst werden die beiden wesentlichen Alterungseffekte (NBTI und HCI) und deren Auswirkung auf digitale Standardzellen untersucht. Anschließend werden zwei Methoden vorgestellt, um die Degradation der Schaltungslaufzeit auf Gatterebene und für Makrozellen zu analysieren. Die Methode auf Gatterebene hebt sich durch ihre hohe Genauigkeit vom Stand d...    »
 
Oral examination:
07.05.2012 
File size:
2206668 bytes 
Pages:
150 
Last change:
27.03.2013