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Originaltitel:
Aging Analysis of Digital Integrated Circuits 
Übersetzter Titel:
Alterungsanalyse digitaler integrierter Schaltungen 
Jahr:
2012 
Dokumenttyp:
Dissertation 
Institution:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik 
Betreuer:
Schlichtmann, Ulf (Prof. Dr.) 
Gutachter:
Schlichtmann, Ulf (Prof. Dr.); Marculescu, Diana (Prof., Ph.D.) 
Sprache:
en 
Fachgebiet:
ELT Elektrotechnik 
Stichworte:
EDA, digital design, aging effects, timing analysis 
Übersetzte Stichworte:
EDA, Digitalentwurf, Alterungseffekte, Timinganalyse 
Kurzfassung:
The aging of integrated circuits leads to a degradation of device parameters, which in turn may lead to a malfunction of the circuit. First, the two dominant aging effects (NBTI and HCI) and their impact on digital standard cells are investigated. Then, two methods are presented to analyze the degradation of the circuit delay on gate and macro cell level. The method on gate level distinguishes itself from the state-of-the-art due to its better accuracy. Based on the aging analysis method for ma...    »
 
Übersetzte Kurzfassung:
Die Alterung integrierter Schaltungen führt zu einer Degradation von Bauteilparametern, welche wiederum zu einem Ausfall der Schaltung führen kann. Zunächst werden die beiden wesentlichen Alterungseffekte (NBTI und HCI) und deren Auswirkung auf digitale Standardzellen untersucht. Anschließend werden zwei Methoden vorgestellt, um die Degradation der Schaltungslaufzeit auf Gatterebene und für Makrozellen zu analysieren. Die Methode auf Gatterebene hebt sich durch ihre hohe Genauigkeit vom Stand d...    »
 
Mündliche Prüfung:
07.05.2012 
Dateigröße:
2206668 bytes 
Seiten:
150 
Letzte Änderung:
27.03.2013