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Originaltitel:
Device Aging in Analog Circuits for Nanoelectronic CMOS Technologies 
Übersetzter Titel:
Bauelementealterung in neuesten analogen CMOS Schaltungen 
Jahr:
2012 
Dokumenttyp:
Dissertation 
Institution:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik 
Betreuer:
Schmitt-Landsiedel, Doris (Prof. Dr.) 
Gutachter:
Schmitt-Landsiedel, Doris (Prof. Dr.); Sattler, Sebastian M. (Prof. Dr.) 
Sprache:
en 
Fachgebiet:
ELT Elektrotechnik 
Kurzfassung:
The trend in microelectronics to reduce device dimensions leads to increasing and new aging effects in the devices. This requires a continuous optimisation of the fabrication process as well as a degradation aware circuit design, to guarantee a high reliability of the functional elements and maintain the stable function of the system. This work focuses on the very sensitive analog circuits. Previous investigations had presented heterogeneous results. Therefore, a throughout and universal study,...    »
 
Übersetzte Kurzfassung:
Die Strukturverkleinerung in der Mikroelektronik führt zu stärkeren und neuen Alterungseffekten in den Bauelementen. Dies erfordert stetige Optimierung der Prozessqualität sowie einen degradationsgewahren Entwurf, um hohe Zuverlässigkeit der Funktionselemente und stabile Funktion des Gesamtsystems zu gewährleisten. Die besonders empfindlichen analogen Schaltungen stehen im Fokus dieser Arbeit. Bisherige Untersuchungen zeigten uneinheitliche Ergebnisse, weshalb eine fundierte und allgemeingültige...    »
 
Mündliche Prüfung:
09.07.2012 
Dateigröße:
3136735 bytes 
Seiten:
166 
Letzte Änderung:
17.07.2012