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Dokumenttyp:
Kartierung
Titel:
Maps of yield-pattern Scheyern "Flachfeld" (16.6 ha, harvest 1990 - 1992, grid-size 50 x 50 m)
Schlagworte:
Precision Farming; Getreide; Ertrag; Ertragskartierung
Schlagworte (engl.):
Precision Farming; Cereals; Yield; Yield mapping
Autor/en:
Auernhammer, H.; Demmel, M.; Perger von, P.
Jahr:
1995
Genaues Erstellungsdatum:
06.06.1995
Sprache:
en
Farbe:
schwarzweiß
Hinweise:
dwg File in Attachment
Zeichner:
Keller, H.
Herkunft:
Institut für Landtechnik TUM / Zeichenbüro
Erfassungsjahr:
2004
Zitation:
http://mediatum.ub.tum.de/export/710072/citation