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Original title:
Atomistic positioning of defects in two-dimensional materials for quantum technology and catalysis
Translated title:
Atomistische Positionierung von Defekten in zweidimensionalen Materialien für Quantentechnologie und Katalyse
Author:
Mitterreiter, Elmar
Year:
2020
Document type:
Dissertation
Faculty/School:
Fakultät für Physik
Advisor:
Holleitner, Alexander (Prof. Dr.)
Referee:
Holleitner, Alexander (Prof. Dr.); Auwärter, Wilhelm (Prof. Dr.)
Language:
en
Subject group:
PHY Physik
TUM classification:
TEC 030d; PHY 685d; ELT 300d
Abstract:
In this doctoral thesis, we use a helium ion microscope (HIM) to place individual point defects in MoS2 and examine their physical properties for future applications in quantum technology and catalysis. We use scanning probe microscopy to study the interactions of helium ions with MoS2 and identify several different defect types. Subsequently, we study the optical properties of these defects. Furthermore, we investigate the catalytic properties of pristine and helium ion irradiated MoS2 for appl...     »
Translated abstract:
In dieser Doktorarbeit benutzen wir ein Helium Ionen Mikroskop um einzelne Punktdefekte in MoS2 zu platzieren und untersuchen ihre physikalischen Eigenschaften für zukünftige Anwendungen in Quantentechnologie und Katalyse. Wir benutzen Rastersondenmikroskopie um die Wechselwirkung von Helium Ionen mit MoS2 zu verstehen und identifizieren mehrere verschiedene Defekttypen. Anschließend inspizieren wir die optischen Eigenschaften dieser Defekte. Außerdem betrachten wir die katalytischen Eigenschaft...     »
Series:
Selected Topics of Semiconductor Physics and Technology
Series volume:
237
ISBN:
978-3-946379-37-9
WWW:
https://mediatum.ub.tum.de/?id=1575477
Date of submission:
12.10.2020
Oral examination:
25.11.2020
Last change:
25.02.2021
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