The investigation of microscopically small structures with conventional imaging methods is limited to small object sizes. Methods based on X-ray scattering, on the other hand, allow for a large-area characterization of the local nano- and microstructure without this restriction. The present work deals with the three-dimensional tomographic reconstruction of directional scattering signals, based on small-angle X-ray scattering and X-ray dark-field imaging.
Übersetzte Kurzfassung:
Die Untersuchung mikroskopisch kleiner Strukturen ist mit konventionellen bildgebenden Verfahren auf kleine Objektgrößen limitiert. Auf Röntgenstreuung basierende Methoden hingegen ermöglichen eine großflächige Charakterisierung der lokalen Nano- und Mikrostruktur ohne diese Beschränkung. Die vorliegende Arbeit behandelt die dreidimensionale tomographische Rekonstruktion richtungsabhängiger Streusignale, basierend auf Röntgenkleinwinkelstreuung und Röntgen-Dunkelfeld-Bildgebung.