Direct Measurements of Fermi Level Pinning at the Surface of Intrinsically n-Type InGaAs Nanowires

Benutzer: Gast

Dokumenttyp:: Zeitschriftenaufsatz
Autor(en):: Speckbacher, Maximilian; Treu, Julian; Whittles, Thomas J.; Linhart, Wojciech M.; Xu, Xiaomo; Saller, Kai; Dhanak, Vinod R.; Abstreiter, Gerhard; Finley, Jonathan J.; Veal, Tim D.; Koblmüller, Gregor
Titel:: Direct Measurements of Fermi Level Pinning at the Surface of Intrinsically n-Type InGaAs Nanowires
Zeitschriftentitel:: Nano Letters
Jahr:: 2016
Band / Volume:: 16
Heft / Issue:: 8
Seitenangaben Beitrag:: 5135-5142
Volltext / DOI:: doi:10.1021/acs.nanolett.6b02061
Verlag / Institution:: American Chemical Society (ACS)
E-ISSN:: 1530-69841530-6992
Publikationsdatum:: 28.07.2016
BibTeX

Vorkommen: