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Dokumenttyp:
Zeitschriftenaufsatz
Autor(en):
Bekkers, Rudi; Tur, Elena M.; Henkel, Joachim; van der Vorst, Tommy; Driesse, Menno; Contreras, Jorge L.
Nicht-TUM Koautoren:
ja
Kooperation:
international
Titel:
Overcoming inefficiencies in patent licensing: A method to assess patent essentiality for technical standards
Intellectual Contribution:
Contribution to Practice
Zeitschriftentitel:
Research Policy
Journal gelistet in FT50 Ranking:
Research Policy
Jahr:
2022
Band / Volume:
51
Heft / Issue:
10
Seitenangaben Beitrag:
104590
Volltext / DOI:
doi:10.1016/j.respol.2022.104590
Verlag / Institution:
Elsevier BV
E-ISSN:
0048-7333
Publikationsdatum:
01.12.2022
Urteilsbesprechung:
0
Key publication:
Nein
Peer reviewed:
Ja
commissioned:
commissioned by company
Technology:
Ja
Interdisziplinarität:
Nein
Leitbild:
;
Ethics und Sustainability:
Nein
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