"Zerstörung im aktiven Teil eines IGBT-Chips ausgelöst durch Avalanche-Durchbruch am Randabschluss"

Knipper, U.; Pfirsch, F.; Raker, T.; Niedermeyr, J.; Wachutka, G.

Document type:: Konferenzbeitrag
Author(s):: Knipper, U.; Pfirsch, F.; Raker, T.; Niedermeyr, J.; Wachutka, G.
Title:: "Zerstörung im aktiven Teil eines IGBT-Chips ausgelöst durch Avalanche-Durchbruch am Randabschluss"
Book / Congress title:: 37. Kolloquium "Halbleiter-Leistungsbauelemente und ihre systemtechnische Anwendung"
Congress (additional information):: 27.10.2008-28.10.2008, Freiburg i. B.
Year:: 2008
Language:: de
Publication format:: CD-ROM / DVD
Format:: Text
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