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- Originaltitel:
- The EDMR Microscope: Combining Conductive Atomic Force Microscopy with Electrically Detected Magnetic Resonance
- Übersetzter Titel:
- Das EDMR-Mikroskop: Eine Kombination von elektrisch detektierter magnetischer Resonanz und Rastersondenmethoden
- Autor:
- Klein, Konrad
- Jahr:
- 2014
- Dokumenttyp:
- Dissertation
- Fakultät/School:
- Fakultät für Physik
- Betreuer:
- Brandt, Martin S. (Prof. Dr.)
- Gutachter:
- Brandt, Martin S. (Prof. Dr.); Grundler, Dirk (Prof. Dr.)
- Sprache:
- en
- Fachgebiet:
- PHY Physik
- Kurzfassung:
- A scanning probe microscope combining electrically detected magnetic resonance (EDMR) and (photo-)conductive atomic force microscopy for room and low temperature operation was developed. The microscope is capable to detect spatial EDMR contrasts on length scales of a few micrometer and resonant current changes as low as 20 fA. In addition, defect states in amorphous silicon thin films were investigated with broadband EDMR.
- Übersetzte Kurzfassung:
- Es wurde ein Rastersondenmikroskop entwickelt, das elektrisch detektierte magnetische Resonanz (EDMR) mit ortsaufgelösten (Photo-)Strommessungen kombiniert und für Raum- und Tieftemperaturbetrieb ausgelegt ist. Mit Hilfe des Mikroskops kann ein EDMR-Kontrast auf Längenskalen von wenigen Mikrometern aufgelöst und eine resonante Stromänderung in der Größenordnung von 20 fA detektiert werden. Außerdem wurden Defektzustände in amorphen Siliziumdünnfilmen mit breitbandiger EDMR untersucht.
- Serie / Reihe:
- Ausgewählte Probleme der Halbleiterphysik und Technologie
- Bandnummer:
- 177
- ISBN:
- 978-3-941650-77-0
- WWW:
- https://mediatum.ub.tum.de/?id=1184493
- Eingereicht am:
- 16.12.2013
- Mündliche Prüfung:
- 16.04.2014
- Letzte Änderung:
- 11.07.2014
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