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Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag 
Art des Konferenzbeitrags:
Vortrag / Präsentation 
Autor(en):
Künzig, T.; Schrag, G.; Iannacci, J. 
Titel:
Modeling and simulation of an active restoring mechanism for high reliability switches in RF-MEMS technology 
Kongress- / Buchtitel:
Proceedings of the 23rd European Sysmposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis 
Kongress / Zusatzinformationen:
ESREF2012, October 1-5, Cagliari, Italy 
Verlag / Institution:
Elsevier 
Verlagsort:
Amsterdam 
Jahr:
2012 
Reviewed:
ja 
Sprache:
en