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Original title:
Nichtstationäres Rauschen im Zell-Transistor-Kontakt durch quantisierte Ionenströme
Translated title:
Nonstationary noise in the cell-chip junction by quantized ion currents
Author:
Becker-Freyseng, Christoph
Year:
2012
Document type:
Dissertation
Faculty/School:
Fakultät für Physik
Advisor:
Fromherz, Peter (Prof. Dr.)
Referee:
Fromherz, Peter (Prof. Dr.); Simmel, Friedrich (Prof. Dr.)
Language:
de
Subject group:
PHY Physik
Abstract:
Über Analyse des nichtstationären Rauschens wird die quantisierte Antwort von Electrolyte-Oxide-Semiconductor Feldeffekttransistoren auf Ströme von Ionenkanälen nachgewiesen. Ein spannungsabhängiger Kaliumkanal wird in tsA201 Zellen exprimiert, die auf rauscharmen EOSFETs adhärieren und mittels Patch-Clamp depolarisiert werden. Durch Modellierung des Zell-Chip-Kontakts als Kern-Mantel-Leiter wird das Rauschen der Gatespannung auf den quantisierten Membranstrom zurückgeführt.
Translated abstract:
By nonstationary noise analysis the quantized response of electrolyte-oxide-semiconductor field-effect transistors to currents of ion channel is revealed. A voltage gated potassium channel is stably overexpressed in tsA201 cells. They adhere on low-noise EOSFETs and are depolarized using voltage clamp. By modeling the cell-chip junction as a core-coat conductor the noise of the gate voltage can be attributed to the quantized membrane current.
WWW:
https://mediatum.ub.tum.de/?id=1100620
Date of submission:
23.04.2012
Oral examination:
20.07.2012
File size:
18670587 bytes
Pages:
151
Urn (citeable URL):
https://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn:nbn:de:bvb:91-diss-20120720-1100620-1-6
Last change:
30.07.2012
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