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Dokumenttyp:
Zeitschriftenaufsatz 
Autor(en):
Borthen, P.; Wachutka, G. 
Titel:
"Testing semiconductor devices at extremly high operating temperatures" 
Zeitschriftentitel:
Microelectronics Reliability 
Jahr:
2008 
Band / Volume:
Vol 28, issues 8-9, special issue ESREF 2008 
Seitenangaben Beitrag:
pp.1440-1443 
Reviewed:
ja 
Sprache:
en 
Verlag / Institution:
Elsevier 
Semester:
SS 02 
Format:
Text