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- Title:
Analyse ionenreduzierter Ausfallmechanismen in hochintegrierten CMOS-Speicherzellen
- Document type:
- Buch
- Author(s):
- Gawlina-Schmidl, Y.
- Editor:
- Wachutka, G.; Schmitt-Landsiedel, D.
- Volume:
- 49
- Bookseries title:
- Ausgewählte Probleme der Elektronik und Mikromechatronik
- Publisher:
- Shaker Verlag
- Publisher address:
- Aachen
- Year:
- 2015
- Format:
- Text
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