The aging of integrated circuits leads to a degradation of device parameters, which in turn may lead to a malfunction of the circuit. First, the two dominant aging effects (NBTI and HCI) and their impact on digital standard cells are investigated. Then, two methods are presented to analyze the degradation of the circuit delay on gate and macro cell level. The method on gate level distinguishes itself from the state-of-the-art due to its better accuracy. Based on the aging analysis method for macro cells, a method is introduced to monitor the degradation of an integrated circuit in the field. This makes it possible to consider aging not just during circuit design, but to react on the individual degradation of an aged circuit in the field.     «

The aging of integrated circuits leads to a degradation of device parameters, which in turn may lead to a malfunction of the circuit. First, the two dominant aging effects (NBTI and HCI) and their impact on digital standard cells are investigated. Then, two methods are presented to analyze the degradation of the circuit delay on gate and macro cell level. The method on gate level distinguishes itself from the state-of-the-art due to its better accuracy. Based on the aging analysis method for ma...     »

Die Alterung integrierter Schaltungen führt zu einer Degradation von Bauteilparametern, welche wiederum zu einem Ausfall der Schaltung führen kann. Zunächst werden die beiden wesentlichen Alterungseffekte (NBTI und HCI) und deren Auswirkung auf digitale Standardzellen untersucht. Anschließend werden zwei Methoden vorgestellt, um die Degradation der Schaltungslaufzeit auf Gatterebene und für Makrozellen zu analysieren. Die Methode auf Gatterebene hebt sich durch ihre hohe Genauigkeit vom Stand der Technik ab. Aufbauend auf der Alterungsanalyse für Makrozellen wird eine Methode vorgestellt, mit der die Alterung einer integrierten Schaltung im laufenden Betrieb überwacht werden kann. Dadurch wird es möglich, Alterung nicht nur beim Schaltungsentwurf zu berücksichtigen, sondern auch im Betrieb auf individuelle Alterung der Schaltung zu reagieren.     «

Die Alterung integrierter Schaltungen führt zu einer Degradation von Bauteilparametern, welche wiederum zu einem Ausfall der Schaltung führen kann. Zunächst werden die beiden wesentlichen Alterungseffekte (NBTI und HCI) und deren Auswirkung auf digitale Standardzellen untersucht. Anschließend werden zwei Methoden vorgestellt, um die Degradation der Schaltungslaufzeit auf Gatterebene und für Makrozellen zu analysieren. Die Methode auf Gatterebene hebt sich durch ihre hohe Genauigkeit vom Stand d...     »