This thesis aims at the mathematical model of the course of a beam of fast moving and electrically charged particles which scans a target. Due to this particle bombardment a charge builds up inside the target which in turn induces a deflection of the beam. Moreover, transport phenomena described by a drift-diffusion model lead to a slow variation of the charge distribution. Accordingly, a coupled model is obtained for which structural properties are investigated and numerical approaches are introduced.     «

This thesis aims at the mathematical model of the course of a beam of fast moving and electrically charged particles which scans a target. Due to this particle bombardment a charge builds up inside the target which in turn induces a deflection of the beam. Moreover, transport phenomena described by a drift-diffusion model lead to a slow variation of the charge distribution. Accordingly, a coupled model is obtained for which structural properties are investigated and numerical approaches are intr...     »

Diese Arbeit befasst sich einem mathematischen Modell zur Vorhersage des Verlaufs eines Strahls aus schnellen und elektrisch geladenen Teilchen, der ein Werkstück abtastet. Aufgrund des Teilchenbeschusses lädt sich dieses elektrisch auf, was wiederum zu einer Ablenkung des Partikelstrahls führt. Zudem führen Transportprozesse zu einer langsamen Veränderung der Ladungsverteilung, was durch ein Drift-Diffusions Modell beschrieben werden kann. Neben der Entwicklung des gekoppelten Modells werden dessen grundlegende Eigenschaften untersucht und numerische Lösungsmethoden vorgestellt.     «

Diese Arbeit befasst sich einem mathematischen Modell zur Vorhersage des Verlaufs eines Strahls aus schnellen und elektrisch geladenen Teilchen, der ein Werkstück abtastet. Aufgrund des Teilchenbeschusses lädt sich dieses elektrisch auf, was wiederum zu einer Ablenkung des Partikelstrahls führt. Zudem führen Transportprozesse zu einer langsamen Veränderung der Ladungsverteilung, was durch ein Drift-Diffusions Modell beschrieben werden kann. Neben der Entwicklung des gekoppelten Modells werden de...     »