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Original title:
Ab Initio simulation of core-level spectroscopies and correlated materials 
Translated title:
Ab initio Simulation von Röntgenspektroskopie und korrelierten Materialien 
Year:
2019 
Document type:
Dissertation 
Institution:
Fakultät für Chemie 
Advisor:
Reuter, Karsten (Prof. Dr.) 
Referee:
Reuter, Karsten (Prof. Dr.); Barth, Johannes (Prof. Dr.) 
Language:
en 
Subject group:
CHE Chemie 
Keywords:
DFT, correlated Materials, NEXAFS, XPS 
Translated keywords:
DFT, korrelierte Materialien, NEXAFS, XPS 
TUM classification:
CHE 150d 
Abstract:
Modern material science relies on spectroscopic techniques in the X-ray regime to achieve a material characterization at length-scales, where other methods are not available. More often than not this involves correlated materials. In this thesis protocols for the simulation of core-level spectroscopies (NEXAFS and XPS) and a correct description of correlated materials adsorbed on surfaces are developed based on model Hamiltonian techniques such as DFT+U. 
Translated abstract:
Die moderne Materialwissenschaft vertraut in der Charakterisierung von Materialien oftmals auf Röntgenspektroskopie um Längenskalen zu betrachten, welche andernfalls nicht zugänglich sind. Solche Studien involvieren oft korrelierte Materialien. In dieser Arbeit werden Protokolle zur Simulation von kernnaher Spektroskopie (NEXAFS und XPS), sowie zur Beschreibung von korrelierten Materialen, basierend auf Modell-Hamilton-Operatoren wie DFT+U, entwickelt. 
Oral examination:
22.03.2019 
File size:
4882705 bytes 
Pages:
135 
Last change:
04.04.2019