Phase distribution in nanocomposite hybrid materials can be analyzed by Force modulation Atomic Force Microscopy (AFM). The combination of this method with conventional analytical methods, e.g. IR spectroscopy and Scanning Electron Microscopy (SEM), leads to a new insight in the formation of these new materials and contributes to tailor their properties. Thin films of such materials were investigated, in order to understand the interactions between the components and their application as natural stone consolidants. In fact, the composite materials investigated here as model films are expected to be similar to those formed among stone grains under real operational conditions.    «

Phase distribution in nanocomposite hybrid materials can be analyzed by Force modulation Atomic Force Microscopy (AFM). The combination of this method with conventional analytical methods, e.g. IR spectroscopy and Scanning Electron Microscopy (SEM), leads to a new insight in the formation of these new materials and contributes to tailor their properties. Thin films of such materials were investigated, in order to understand the interactions between the components and their application as natural...    »

Die vorliegende Arbeit liefert neue Erkenntnisse über Hybridmaterialien durch die Kombination von neuen Techniken, wie Force modulation, Atomic Force Microscopy und anderen bereits bekannten Methoden, wie IR-Spektroskopie und Rasterelektronenmikroskopie (REM). Die einfache Handhabung des AFM Gerätes, die einfache Probenpräparation und der Vorteil, Abbildungen im Mikrometer- und Nanometer-Bereich zu erhalten, ermöglichen die genaue Bestimmung zweier unterschiedlicher Phasen und deren Verteilung auf der Oberfläche in Abhängigkeit von der Probenzusammensetzung des Composite-Materials. Die Präparation dünner Filme und die Wahl der geeigneten Katalysatoren DBTL (Dibutyltin dilaurate) und Salzsäure führt zu einer weiteren Möglichkeit, dieses Material als Natursteinverfestiger zu verwenden.    «

Die vorliegende Arbeit liefert neue Erkenntnisse über Hybridmaterialien durch die Kombination von neuen Techniken, wie Force modulation, Atomic Force Microscopy und anderen bereits bekannten Methoden, wie IR-Spektroskopie und Rasterelektronenmikroskopie (REM). Die einfache Handhabung des AFM Gerätes, die einfache Probenpräparation und der Vorteil, Abbildungen im Mikrometer- und Nanometer-Bereich zu erhalten, ermöglichen die genaue Bestimmung zweier unterschiedlicher Phasen und deren Verteilung a...    »