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- Dokumenttyp:
- Konferenzbeitrag
- Autor(en):
- U. Nurmetov, T. Fritz, E. Muellner, C. Dougherty, F. Kreupl , R. Brederlow
- Titel:
- A CMOS Temperature Stabilized 2-Dimensional Mechanical Stress Sensor with 11-bit Resolution,
- Abstract:
- An integrated 11-bit 2-D CMOS stress sensor is presented with 66dB of dynamic range, measuring -100 to 360MPa, and < 1LSB error over temperature from 5ºC to 90ºC. N-Well-based primary elements enable accurate sensing of stress magnitude and angle, and allow repeatable error compensatio
- Herausgeber:
- IEEE
- Kongress- / Buchtitel:
- 2019 Symposia on VLSI Technology and Circuits
- Ausrichter der Konferenz:
- IEEE
- Datum der Konferenz:
- 10.6.2019
- Jahr:
- 2019
- Nachgewiesen in:
- Scopus
- Reviewed:
- ja
- Sprache:
- en
- Erscheinungsform:
- WWW
- Volltext / DOI:
- doi:10.23919/VLSIC.2019.8778132
- TUM Einrichtung:
- Hybride Elektronische Systeme
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