Login
- Autor(en):
- Tabacaru, Bogdan Andrei; Chaari, Moomen; Ecker, Wolfgang; Kruse, Thomas; Novello, Cristiano
- Titel:
- {Gate-Level-Accurate Fault-Effect Analysis at Virtual-Prototype Speed}
- Zeitschriftentitel:
- ERCIM/EWICS/ARTEMIS Workshop on ``Dependable Embedded and Cyber-physical Systems and Systems-of-Systems'' (DECSoS'16)
- Jahr:
- 2016
- Seitenangaben Beitrag:
- 1--13
- Volltext / DOI:
- doi:10.1007/978-3-319-45480-1_12
BibTeX