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Autor(en):
Max Stelzer, Franz Kreupl
Titel:
Reliability and ESD improvement of metal-semiconductor contacts by using a carbon interface laye
Kongresstitel:
Infineon Innovation Week
Lehrstuhl:
Hybride Elektronische Systeme
TUM Einrichtung:
Hybride Elektronische Systeme
Datum:
12.11.2015
Jahr:
2015
Sprache:
en
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