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Author(s):
Pour Aryan, Nasim; Wirnshofer, Martin; Schmitt-Landsiedel, Doris; Georgakos, Georg 
Title:
An in situ Timing Measurement Method for Reliability Diagnosis of Digital Circuits 
Book / Congress title:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 7. ITG/GI/GMM-Fachtagung 
Volume:
Zuverlässigkeit und Entwurf (ITG-FB 244) 
Publisher address:
Dresden 
Year:
2013