In this study, active and passive sensor systems and their reflection parameters were compared based on destructively assessed plant parameters of wheat. The sensor systems differed in the variation of single measurements but revealed similar results on plot level. Spectral parameters were strongly affected by the development stage and N status of the plants. Source-sink relationships throughout grain filling were well assessed by spectral measurements. The combination of spectral- and ultrasound measrements improved visual rating of crop density. High-throughput phenotyping by spectral measurements therefore offers a tool to evaluate wheat cultivars by yield related plant traits.     «

In this study, active and passive sensor systems and their reflection parameters were compared based on destructively assessed plant parameters of wheat. The sensor systems differed in the variation of single measurements but revealed similar results on plot level. Spectral parameters were strongly affected by the development stage and N status of the plants. Source-sink relationships throughout grain filling were well assessed by spectral measurements. The combination of spectral- and ultrasoun...     »

In dieser Arbeit wurden passive und aktive Sensoren und Reflektionsparameter auf Basis destruktiv erfasster Weizenparameter verglichen. Die Sensorsysteme unterschieden sich in der Variation ihrer Einzelmessungen, zeigten jedoch auf Plot-Ebene große Ähnlichkeiten. Die Spektralparameter selbst wurden stark vom Entwicklungsstadium und Ernährungszustand der Pflanzen beeinflusst. Source-Sink Verhältnisse während der Kornfüllung konnten mit Spektralmessungen gut erfasst werden. Die Kombination von Spektral- und Ultraschallmessungen verbesserte die Sichtbonitur der Bestandesdichte. Spektralmessungen ermöglichen somit Getreidesorten bezüglich ertragsrelevanter Pflanzenparameter im Hochdurchsatz phänotypisch zu bewerten.     «

In dieser Arbeit wurden passive und aktive Sensoren und Reflektionsparameter auf Basis destruktiv erfasster Weizenparameter verglichen. Die Sensorsysteme unterschieden sich in der Variation ihrer Einzelmessungen, zeigten jedoch auf Plot-Ebene große Ähnlichkeiten. Die Spektralparameter selbst wurden stark vom Entwicklungsstadium und Ernährungszustand der Pflanzen beeinflusst. Source-Sink Verhältnisse während der Kornfüllung konnten mit Spektralmessungen gut erfasst werden. Die Kombination von Spe...     »