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Autor(en):
Kiermaier, Josef; Becherer, Markus; Emling, Rainer; Kraus, Werner; Csaba, Gy�; Schmitt-Landsiedel, Doris 
Titel:
Focused Ion Beam Techniques for Prototyping an Extraordinary Hall-Effect Sensor 
Kongress- / Buchtitel:
Nanotoday 2009 Conference Poster session 
Jahr:
2009 
Monat:
Aug.