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Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag
Autor(en):
Yan, Bonan; Liu, Chenchen; Liu, Xiaoxiao; Chen, Yiran; Li, Hai
Titel:
Understanding the trade-offs of device, circuit and application in ReRAM-based neuromorphic computing systems
Kongress- / Buchtitel:
2017 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)
Verlag / Institution:
IEEE
Publikationsdatum:
01.12.2017
Jahr:
2017
Print-ISBN:
9781538635599
Volltext / DOI:
doi:10.1109/iedm.2017.8268371
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