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Document type:
Konferenzbeitrag
Author(s):
Helmut, D.; Wachutka, G.; Groos, G.
Title:
ESD damage without failure, followed by EOS: A case study on automotive smart power IC's
Book / Congress title:
Fachtagung Zuverlässigkeit und Entwurf
Date of congress:
18-20 September 2017
Publisher address:
Berlin
Year:
2017
Year / month:
2017-09
Month:
Sep
TUM Institution:
Lehrstuhl für Technische Elektrophysik
Ingested:
16.10.2018
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