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Dokumenttyp:
Patentanmeldung
Patentanmeldung Nr.:
DE 10 2017 002 419.7
Erfinder:
Lu, M.
Patentanmelder:
Lu, M.
Titel:
Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung eines Rotationswinkels und einer Rotationsrichtung eines Objektes mittels räumlicher Phasenschiebe-Speckle-Interferometrie
Anmeldeland:
Deutschland
Anmeldenummer:
DE 10 2017 002 419.7
Datum der Patentanmeldung:
14.03.2017
Jahr:
2017
Sprache:
de
TUM Einrichtung:
Lehrstuhl für Messsystem- und Sensortechnik
Format:
Text
Eingabe:
04.01.2018
Letzte Änderung:
08.02.2018
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