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- Autor(en):
- Thibault, P.; Dierolf, M.; Menzel, A.; Bunk, O.; David, C.; Pfeiffer, F.
- Titel:
- High-Resolution Scanning X-ray Diffraction Microscopy
- Zeitschriftentitel:
- Science
- Jahr:
- 2008
- Band / Volume:
- 321
- Heft / Issue:
- 5887
- Seitenangaben Beitrag:
- 379-382
- Volltext / DOI:
- doi:10.1126/science.1158573
- Verlag / Institution:
- American Association for the Advancement of Science (AAAS)
- Publikationsdatum:
- 18.07.2008
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