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Autor(en):
Huang, Jia; Huang, Kai; Raabe, Andreas; Buckl, Christian; Knoll, Alois 
Titel:
Towards Fault-Tolerant Embedded Systems with Imperfect Fault Detection 
Kongress- / Buchtitel:
49th Design Automation Conference (DAC) 
Verlagsort:
San Francisco, CA, USA 
Jahr:
2012 
Monat:
June 
Seiten:
188--196