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Dokumenttyp:
Zeitschriftenaufsatz 
Autor(en):
Veit Kleeberger, Christina Gimmler-Dumont, Christian Weis, Andreas Herkersdorf, Daniel Mueller- Gritschneder, Sani Nassif, Ulf Schlichtmann, Norbert Wehn 
Titel:
A Cross-Layer Technology-Based Study of How Memory Errors Impact System Resilience 
Stichworte:
VirTherm 3D 
Dewey Dezimalklassifikation:
620 Ingenieurwissenschaften 
Zeitschriftentitel:
IEEE Micro 
Jahr:
2013 
Band / Volume:
Volume 33 
Jahr / Monat:
2013-07 
Monat:
Jul 
Heft / Issue:
Number 4 
Sprache:
en 
TUM Einrichtung:
Lehrstuhl für Integrierte Systeme 
Format:
Text