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Autor(en):
Valenzuela, Alejandro A.; Sölkner, G.; Keßler, Jochen; Russer, Peter H.
Titel:
Microwave Characterisation of Structured YBatextlesssubtextgreater2textless/subtextgreaterCutextlesssubtextgreater3textless/subtextgreaterOtextlesssubtextgreater7-δtextless/subtextgreater - Thin Films
Zeitschriftentitel:
Materials Science Forum
Jahr:
1993
Band / Volume:
130-132
Seitenangaben Beitrag:
349--372
Volltext / DOI:
doi:10.4028/www.scientific.net/MSF.130-132.349
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