Diese Arbeit stellt simulationsbasierte Verfahren zum aufwendigen Entwurf von Testkriterien für analoge integrierte Schaltungskomponenten vor, nach denen Schaltungen beim Test angenommen oder aussortiert werden. Dabei werden mit robusten Optimierverfahren unter Berücksichtigung von Messfehlern die Zielgrößen Ausbeuteeinbuße und Fehlerdurchlässigkeit minimiert, die die Qualität eines Tests bestimmen. Zur effizienten Berechnung der Zielgrößen profitieren die Verfahren von bereits vorhandenen Ergebnissen des Schaltungsentwurfs und der Ausbeuteoptimierung und halten durch eine geschickte Verbindung deterministischer und stochastischer Ansätze den Simulationsaufwand klein. Ein Vergleich mit dem Stand der Technik zeigt die Effizienz der Testentwurfsverfahren.     «

Diese Arbeit stellt simulationsbasierte Verfahren zum aufwendigen Entwurf von Testkriterien für analoge integrierte Schaltungskomponenten vor, nach denen Schaltungen beim Test angenommen oder aussortiert werden. Dabei werden mit robusten Optimierverfahren unter Berücksichtigung von Messfehlern die Zielgrößen Ausbeuteeinbuße und Fehlerdurchlässigkeit minimiert, die die Qualität eines Tests bestimmen. Zur effizienten Berechnung der Zielgrößen profitieren die Verfahren von bereits vorhandenen Ergeb...     »

This thesis presents simulation-based methods for the complex design of go/no-go test criteria for analog integrated circuits. Based on robust optimization methods, the objectives yield loss and fault loss, which determine the quality of a test, are minimized considering measurement errors. For an efficient calculation of the robustness measures, the methods benefit from available results of circuit design and yield optimization. Due to a subtle combination of deterministic and stochastic approaches the simulation effort is low. A comparison with the state-of-the-art shows the efficiency of the test design methods.     «

This thesis presents simulation-based methods for the complex design of go/no-go test criteria for analog integrated circuits. Based on robust optimization methods, the objectives yield loss and fault loss, which determine the quality of a test, are minimized considering measurement errors. For an efficient calculation of the robustness measures, the methods benefit from available results of circuit design and yield optimization. Due to a subtle combination of deterministic and stochastic approa...     »