Polarized neutron reflectometry (PNR) is an ideal tool to study the depth resolved structural and magnetic properties of thin films. A unique determination of these parameters, however, is not possible due to the phase problem. In this work, the framework of phase-sensitive in situ PNR is developed using reference layers to uniquely retrieve the sample properties. The feasibility of the method is demonstrated using reflectivity measurement on Cu/Fe thin films.
Übersetzte Kurzfassung:
Polarisierte Neutronen Reflektometrie (PNR) ist ein ideales Werkzeug, um die strukturellen und magnetischen Eigenschaften von dünnen Schichten tiefenaufgelöst zu untersuchen. Eine eindeutige Bestimmung dieser Parameter ist jedoch nicht möglich wegen des Phasenproblems. In dieser Arbeit wird eine phasensensitive in situ PNR Methode mithilfe von Referenzschichten entwickelt um die Probeneigenschaften eindeutig zu erhalten. Die Umsetzbarkeit dieser Methode wird anhand von Cu/Fe Proben gezeigt.
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