Benutzer: Gast  Login
Originaltitel:
Robust Design of DRAM Core Circuits 
Originaluntertitel:
Yield Estimation and Analysis by A Statistical Design Approach 
Übersetzter Titel:
Robustes Design von DRAM-Schaltungen 
Übersetzter Untertitel:
Ausbeuteschätzung und Analyse mittels einer statistischen Designannäherung 
Jahr:
2010 
Dokumenttyp:
Dissertation 
Institution:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik 
Betreuer:
Schmitt-Landsiedel, Doris (Prof. Dr.) 
Gutachter:
Schmitt-Landsiedel, Doris (Prof. Dr.); Thewes, Roland (Prof. Dr.) 
Sprache:
en 
Fachgebiet:
ELT Elektrotechnik 
Stichworte:
DRAM, design for yield, analytical modeling 
Kurzfassung:
Yield of DRAM circuits becomes a crucial issue due to ever-increasing bit density and never-stop shrinking technology. In this dissertation, based on statistical mathematics and analytical small signal models analytical yield analysis modeling is applied to DRAM core circuits, so that the yield in nowadays and future DRAM circuits/technology design can be estimated and optimized. With the methods developed here, it is hopeful that DRAM core designs will be more robust and area efficient. It pr...    »
 
Übersetzte Kurzfassung:
Die Ausbeute von DRAM Schaltungen gestaltet sich zunehmend schwieriger mit zunehmender Speicherdichte und immer kleiner werdenden Strukturgrößen. Basierend auf statistischen Methoden und einem analytischen, hierarchisch aufgebauten Schaltungsmodell wird in dieser Dissertation die elektrische Ausbeute von beliebigen DRAM-Schaltungen analysiert. Mit Hilfe dieses Modells kann die Ausbeute von DRAM Schaltungen bezüglich Fläche, Versorgungsspannung, Zellenfeldarchitektur und Ungenauigkeiten der Verst...    »
 
Mündliche Prüfung:
11.06.2010 
Seiten:
139 
Letzte Änderung:
09.08.2010