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Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag
Autor(en):
Hirth, F.; Dudeck, S.; Jakobi, M.; Gerhard, D.; Koch, A.W.
Titel:
Thin film interferometer using a light source with spectrally non-equidistantly distributed sampling points
Kongress- / Buchtitel:
Proceedings of the SPIE Europe Optical Metrology Conference
Kongress / Zusatzinformationen:
ICM-International Conference Centre Munich, 14.-18.06.2009, Munich, Germany
Jahr:
2009
Sprache:
en
Format:
Text
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