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Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag 
Autor(en):
El-Khozondar, H.J.; Müller, M.S.; El-Khozondar, R.J.; Shabat, M.M.; Koch, A.W. 
Titel:
Sensitivity of TE double-negative metamaterial optical sensor 
Kongress- / Buchtitel:
Proceedings of the SPIE Europe Optical Metrology Conference 
Kongress / Zusatzinformationen:
ICM-International Conference Centre Munich, 14.-18.06.2009, Munich, Germany 
Jahr:
2009 
Sprache:
en 
Format:
Text