"Zerstörung im aktiven Teil eines IGBT-Chips ausgelöst durch Avalanche-Durchbruch am Randabschluss"

Knipper, U.; Pfirsch, F.; Raker, T.; Niedermeyr, J.; Wachutka, G.

Dokumenttyp:: Konferenzbeitrag
Autor(en):: Knipper, U.; Pfirsch, F.; Raker, T.; Niedermeyr, J.; Wachutka, G.
Titel:: "Zerstörung im aktiven Teil eines IGBT-Chips ausgelöst durch Avalanche-Durchbruch am Randabschluss"
Kongress- / Buchtitel:: 37. Kolloquium "Halbleiter-Leistungsbauelemente und ihre systemtechnische Anwendung"
Kongress / Zusatzinformationen:: 27.10.2008-28.10.2008, Freiburg i. B.
Jahr:: 2008
Sprache:: de
Erscheinungsform:: CD-ROM / DVD
Format:: Text
BibTeX