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Document type:
Konferenzbeitrag 
Author(s):
Knipper, U.; Pfirsch, F.; Raker, T.; Niedermeyr, J.; Wachutka, G. 
Title:
"Zerstörung im aktiven Teil eines IGBT-Chips ausgelöst durch Avalanche-Durchbruch am Randabschluss" 
Book / Congress title:
37. Kolloquium "Halbleiter-Leistungsbauelemente und ihre systemtechnische Anwendung" 
Congress (additional information):
27.10.2008-28.10.2008, Freiburg i. B. 
Year:
2008 
Language:
de 
Publication format:
CD-ROM / DVD 
Format:
Text