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Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag 
Autor(en):
Knipper, U.; Pfirsch, F.; Raker, T.; Niedermeyr, J.; Wachutka, G. 
Titel:
"Zerstörung im aktiven Teil eines IGBT-Chips ausgelöst durch Avalanche-Durchbruch am Randabschluss" 
Kongress- / Buchtitel:
37. Kolloquium "Halbleiter-Leistungsbauelemente und ihre systemtechnische Anwendung" 
Kongress / Zusatzinformationen:
27.10.2008-28.10.2008, Freiburg i. B. 
Jahr:
2008 
Sprache:
de 
Erscheinungsform:
CD-ROM / DVD 
Format:
Text