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Autor(en):
Nirmaier, T.; Zaguirre, J.T.; Hong, E.; Spirkl, W.; Rettenberger, A.; Schmitt-Landsiedel, D. 
Titel:
Efficient High-Speed Interface Verification and Fault Analysis 
Kongress- / Buchtitel:
Proc. IEEE International Test Conference ITC 2008 
Jahr:
2008 
Seiten:
1--9 
Serien-ISSN:
1089-3539