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Autor(en):
Fischer, T.; Amirante, E.; Huber, P.; Nirschl, T.; Olbrich, A.; Ostermayr, M.; Schmitt-Landsiedel, D. 
Titel:
Analysis of read current and write trip voltage variability from a 1 MBit SRAM test structure 
Zeitschriftentitel:
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing 
Jahr:
2008 
Band / Volume:
21 
Monat:
Nov. 
Heft / Issue:
Seitenangaben Beitrag:
534-541 
Sprache:
emglish