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Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag 
Art des Konferenzbeitrags:
Vortrag / Präsentation 
Autor(en):
Fischer, Thomas; Amirante, Ettore; Hofmann, Karl; Ostermayr, Martin; Huber, Peter; Schmitt-Landsiedel, Doris 
Titel:
Test structures for SRAM cell and device variability and the statistics of NBTI degradation 
Kongress- / Buchtitel:
Workshop on Variation Test Structures at ICCAD 
Kongress / Zusatzinformationen:
San Jose, USA 
Publikationsdatum:
13.11.2008 
Jahr:
2008 
Sprache:
en 
TUM Einrichtung:
Lehrstuhl für Technische Elektronik 
Format:
Text