Benutzer: Gast  Login
Dokumenttyp:
Zeitschriftenaufsatz 
Autor(en):
Fischer, Thomas; Amirante, Ettore; Hofmann, Karl; Ostermayr, Martin; Huber, Peter; Schmitt-Landsiedel, Doris 
Titel:
A 65nm test structure for the analysis of NBTI induced statistical variation in SRAM transistors 
Zeitschriftentitel:
Proc. of ESSDERC 
Jahr:
2008 
Seitenangaben Beitrag:
51-54 
Sprache:
de 
TUM Einrichtung:
Lehrstuhl für Technische Elektronik 
Format:
Text