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Originaltitel:
Development of a fast DRAM Analyzer and Measurement of Typical and Critical Memory Access Sequences in Applications 
Übersetzter Titel:
Entwicklung eines schnellen DRAM Analyzers zur Analyse typischer und kritischer Sequenzen in Applikationen 
Jahr:
2008 
Dokumenttyp:
Dissertation 
Institution:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik 
Betreuer:
Ruge, Ingolf (Prof. Dr.) 
Gutachter:
Ruge, Ingolf (Prof. Dr.); Diepold, Klaus (Prof. Dr.) 
Sprache:
en 
Fachgebiet:
ELT Elektrotechnik 
Stichworte:
DDR2, SDRAM, Memory, Semiconductor, Performance, Measurement 
Übersetzte Stichworte:
DDR2, SDRAM, Speicherung, Halbleiter, Leistungsfähigkeit, Messung 
Kurzfassung:
The performance of current computer systems is highly influenced by the memory system. Today memory controllers have to adhere to a dozen SDRAM timing parameters which have to be fulfilled, in order to operate the SDRAM within its specification. For the thesis a measurement system was developed, which is capable of recording long access sequences in realtime without affecting system operation. From the gathered access sequences, those SDRAM parameters were determined which...    »
 
Übersetzte Kurzfassung:
Die Leistungsfähigkeit gegenwärtiger Rechnersysteme wird maßgeblich vom Zusammenspiel von Recheneinheit und Speichersystem bestimmt. Heutige SDRAM Speichercontroller müssen rund ein dutzend SDRAM Parameter einhalten, um einen korrekten Betrieb der SDRAM Bausteine zu gewährleisten. In der Doktorarbeit wurde ein Meßsystem entwickelt, mit welchem SDRAM Zugriffe auf gegenwärtigen Rechnersystemen über praktisch beliebig lange Zeiträume aufgezeichnet werden können, ohne das gemessene...    »
 
Mündliche Prüfung:
29.10.2008 
Seiten:
129 
Letzte Änderung:
27.01.2009