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Originaltitel:
Quantitative Near-Field Phonon-Polariton Spectroscopy 
Übersetzter Titel:
Quantitative Nahfeld Phonon-Polariton-Spektroskopie 
Jahr:
2007 
Dokumenttyp:
Dissertation 
Institution:
Fakultät für Physik 
Betreuer:
Stutzmann, Martin (Univ.-Prof. Dr.) 
Gutachter:
Stutzmann, Martin (Univ.-Prof. Dr.); Baumeister, Wolfgang (Hon.-Prof. Dr.) 
Sprache:
en 
Fachgebiet:
PHY Physik 
Stichworte:
SNOM; s-SNOM; Near-field optical microscopy 
Kurzfassung:
This thesis demonstrates that the scattering-type scanning near-field optical microscopy operating at infrared frequencies (IR s-SNOM) can be employed for the nanoscale mapping of crystallinity in polar materials based on the phonon-polariton resonant near-field interaction between the probe and the sample surface. It is additionally shown that IR s-SNOM is sensitive to the stacking sequence of atomic layers in a SiC crystal, but that accurate and reproducible measurements of such weak structur...    »
 
Übersetzte Kurzfassung:
Die Arbeit zeigt, dass Streulicht-Nahfeldmikroskopie mit Infrarotbeleuchtung (IR s-SNOM) dazu benutzt werden kann,die Kristallinität von polaren Materialien mittels Phonon-Polariton Nahfeld-optischer Wechselwirkung zwischen Sonde und Probenoberfläche auf der Nanometerskala abzubilden. Weiterhin wird gezeigt, dass das IR s-SNOM auf die Stapelfolge von Atomlagen in einem polaren SiC-Kristal (Polytypismus) sensitiv ist. Allerdings benötigen Messungen von so geringen Nahfeldkontrasten...    »
 
Mündliche Prüfung:
28.08.2007 
Letzte Änderung:
12.02.2014